前文的OEE模型顯示出LOTSIZE會影響效率，較大的批量可以減少切換次數(shù)，從而提升設備效率，但較大的批量會導致較長的生產周期。05年時在A咨詢公司顧問的建議下，F(xiàn)公司增大了物料的批次量（LOTSIZE），并增加了效率。

　　很快時間到了08年，此時黑石等基金購買了F公司，要求公司降低總體庫存，并聘用的B咨詢公司來推進公司進行精益改革。這家公司的顧問提出的第一個要求就是減少物料的批次量以縮短封裝及測試的生產周期。B咨詢公司顧問提出一個理論：  生產周期= 在制品庫存/節(jié)拍  。降低在制品庫存和生產周期是同一件事。此外他們提出一個系數(shù)LT/∑CT ,  就是用當前的周期時間/各工序的按批次量計算的加工周期；并聲稱一流企業(yè)這個系數(shù)應該為2。F公司進行了內部測算，發(fā)現(xiàn)公司的封裝車間這個系數(shù)在2.5-3倍之間。公司總部下達了縮短生產周期的要求，將部分產品的生產周期目標設定為3天。

　　F公司的Wafer lotsize 為13K和17K兩種，當前的封裝LOTISZE一般為3.24K和4.32K。項目組分析了改變LOTSIZE對設備效率，人員負荷和設備純加工周期的影響。發(fā)現(xiàn)當前LOTSIZE對封裝車間是最合適的，但對測試車間相對較小，于是2個車間達成一致意見，在封裝車間維持LOTSIZE不變，在測試車間將2批物料合并為一批。
　　依照合并后的批次，可以帶來1.2%的測試設備效率提升。
　　然后分析了一個WAFER lot的產品合并的可行性，即同時投料的幾批物料是否會在接近的時候封裝產出。數(shù)據(jù)顯示波動不大，同一個WAFER LOT的不同批次封裝完工時間可以控制在一個班次內。
　　經過2周的試運行，發(fā)現(xiàn)測試批次量得到了有效的提升，同時測試設備的OEE也得到了提升。